1.End pressure(≥24h):≦3×10-6mBar TMP; Lower IGP≦5×10-7mBar; Upper IGP≦5×10-9mBar.
2. High resolution at HT=10 KV (or higher): 1.5nm;at HT=1 KV:2.5nm
有功能: SE、BSE模式下观察、分析材料的微观形貌及EDS微区成分分析(GENESIS60S能谱 仪,分辨率:131eV),电子背散射衍射系统(EBSD)(2009年新增)
EDS、BSE以及EBSD系统
公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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