X射线发生器:最大输出功率:3kW;稳定度:±0.01%(外电路波动±10%);靶材:Cu;电流:2-60mA;电压:20-60kV;最小焦斑尺寸:1.0×10mm2
测角仪:扫描方式:θ-θ联动或单动,垂直方式;测角仪半径:不小于285mm;2θ扫描范围:-3°~165°;角度最小步进:1/10000°;最大定位速度:1000°/分
光学狭缝:自动入射/散射/接受狭缝:0.05-7mm,程序可调,0.01mm/step;入射/接受端索拉狭缝:5.0度;限高狭缝:2mm,5mm,10mm
可对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析,可精确地测定物质的晶体结构,也可用于物相定性、定量分析,晶粒大小、结晶度、残余应力分析等。
无
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