主要规格及技术指标

 超高分辨图像的观察，最大放大倍数3百万倍
0.6nm (二次电子，加速电压：15kV)
0.7nm (二次电子，加速电压：1kV) 突出的低压分辨率
1.0nm (二次电子，加速电压：0.5kV) 突出的低压分辨率
1.5nm (背散射电子，加速电压：30kV) 突出的背散射技术
 加速电压： 0.01kV~30.0kV
 快速分析用大电流：最大500nA（15kV），高速高精度分析效果好；
 超级混合式物镜，配备能量过滤器
 浸没式热场发射电子枪（专利）：束流稳定性高，电子枪寿命超长，质保期为三年。
 稳定的GB模式，可以有效抑制充电和提高低电压下的分辨率(专利)；
 配备全自动离子溅射仪JEC－3000FC为不导电样品喷金喷铂金使用。
附件EDAX Octane X射线能谱仪的主要技术参数
1、 能谱探测器：采用Si4N3保护窗新型SDD芯片，晶体有效检测面积70mm2
2、分析元素范围：Be4~U92；能量分辨率(Mn-Ka)：优于127eV ；在0~200kcps范围内的分辨率稳定性：> 90%
3、可处理最大计数率:2,000,000CPS，最大输出计数率>800,000CPS；智能微观分析平台；智能定量分析：eZAF定量方法和PaBaZAF定量方法

主要功能及特色

JSM-7900F是日本电子（JEOL）高分辨率的场发射扫描电镜，配有美国EDAX公司的能谱仪，主要用于材料的微观形貌的显微分析研究。

主要附件及配置

无