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场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜
仪器编号
2020014494
规格
0.8nm (15kV) ;1.0nm (1kV);0.1 ~ 30 kV;
生产厂家
日本株式会社(JEOL)
型号
JEOL/JSM-7610FPlus
制造国家
日本
分类号
03040702
放置地点
新化学楼139
出厂日期
2018/11/29
购置日期
2018/09/12
入网日期
2020/07/13

主要规格及技术指标

分辨率:0.8nm (二次电子,加速电压:15kV);1.0nm (二次电子,加速电压:1kV);
倍率:Direct magnification: x25 to 1,000,000(120 x 90 mm);Display magnification: x75 to 3,000,000(1,280 x 960 pixels);
加速电压:0.1 ~ 30 kV;
探针电流:数 pA ~ 200 nA;

主要功能及特色

采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统,提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期