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场发射透射电子显微镜
场发射透射电子显微镜
仪器编号
2022015525
规格
点分辨率0.23nm@200KV-线0.10nm@200KV-2.5nA-0.8eV
生产厂家
日本电子株式会社
型号
JEOL/JEM-F200
制造国家
日本
分类号
03040701
放置地点
新化学楼138B
出厂日期
2022/03/29
购置日期
2020/11/06
入网日期
2022/11/01

主要规格及技术指标

电子枪类型:热场发射枪
加速电压:80 – 200 kV
TEM点分辨率:0.23 nm
TEM线分辨率:0.1 nm
STEM分辨率:0.16 nm
放大倍率:MAG模式 2000–2M倍
Low MAG模式 50–6,000倍
STEM模式100–150M倍

主要功能及特色

四级聚光镜系统 --- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。
皮米样品台驱动 --- 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。

主要附件及配置

相机:Gatan Rio16相机
能谱:JED-2300T超级能谱仪(有效探测面积100 mm2)

公告名称 公告内容 发布日期