主要规格及技术指标

日本电子/JSM-IT800(HL)热场发射扫描电子显微镜
二次电子像分率: 0.7nm@20kV，1.19nm@1kV
EDX分辨率: 125 eV
EBSD分辨率: 1.13 nm@20kV

主要功能及特色

1、SEM扫描电子显微镜结构分析
2、英国牛津Xplore 30 EDX能谱分析
3、英国牛津最新款Symmetry S3 EBSD背散射电子衍射分析（超快采集晶体取向信息）
4、热场发射能量密度高，能够针对严重变形样品、获取更高的EBSD信息采集率

主要附件及配置

英国牛津 Xplore 30能谱仪
最新款英国牛津 Symmetry S3 EBSD背散射电子衍射探头