主要规格及技术指标

1.测量模式
（1）接触模式 (Contact Mode)
（2）智能扫描模式( ScanAsyst)
（3）轻敲模式 (Tapping Mode, Bruker专利技术)
（4）相位成像模式（Phaseimaging，Bruker 专利技术）
（5）抬起模式 (Lift Mode, Bruker专利技术)
（6）扭距共振模式（TR-MODR，Bruker 专利技术）
（7）高次谐波共振模式(HarmoniC 模式,Bruker专利技术)
（8）电场力显微镜（EFM）
（9）表面电势显微镜（Surface Potential,KFM）
（10）表面磁场（MFM）
（11）压电响应模式（PFM）
（12）横向力/摩擦力显微镜 (LFM)
（13）力曲线 / 力谱 测量（Force curve/ Force volume）
2.扫描范围：90µm x 90µm x 10µm
3.分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率

主要功能及特色

Z方向噪声水平：开环控制< 0.3Å
闭环控制< 0.35 Å（图象测试）；< 0.5Å（力测试）
XY方向噪音水平：开环控制< 0.1nm；闭环控制< 0.15nm

主要附件及配置

无